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Field ion microscopy : principles and applications

by Erwin W. Müller and Tien Tzou Tsong. -- American Elsevier, 1969. <BB00101880>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 注記 所蔵館 配置場所 請求記号 状態 返却予定日 予約
0001 壬生 1F_一般図書（0-8） 427.1-M946-1969 0件
No. 0001
巻号
所蔵館
所蔵館 壬生
配置場所 1F_一般図書（0-8）
請求記号 427.1-M946-1969
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Field ion microscopy : principles and applications / by Erwin W. Müller and Tien Tzou Tsong
出版・頒布事項 New York : American Elsevier , 1969
形態事項 ix, 314 p., [1] leaf of plate : ill. (part col.) ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0444000623
注記 Includes bibliographies and indexes
学情ID BA09973074
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Müller, Erwin W. <AU00069006>
著者標目リンク Tsong, Tien Tzou, 1934- <AU00069007> joint author
分類標目 LCC:QH212.F5
分類標目 DC:578/.1
件名標目等 Field ion microscope
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